NÚÑEZ PÉREZ, R. F. La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrónico, programas y aplicaciones a señales de diversos campos. Ingeniería Investigación y Tecnología, [S. l.], v. 15, n. 1, 2015. Disponível em: https://journals.unam.mx/index.php/ingenieria/article/view/45801. Acesso em: 3 jul. 2024.